主营产品:

便携式焦炉红外测温仪,毛细吸水时间测定仪,深视力检测仪,石油产品凝点测定仪,磷酸根分析仪,玻璃密度比较仪

产品资料
产品[

手持式数字式四探针测试仪/手持式四探针测试仪/四探针电阻测试仪恒奥德

]资料
如果您对该产品感兴趣的话,可以 sendmsg
产品名称: 手持式数字式四探针测试仪/手持式四探针测试仪/四探针电阻测试仪恒奥德
产品型号: HADM-2
产品厂商: 恒奥德
产品文档: 无相关文档
简单介绍
    

手持式数字式四探针测试仪/手持式四探针测试仪/四探针电阻测试仪恒奥德 HADM-2型手持式数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。

手持式数字式四探针测试仪/手持式四探针测试仪/四探针电阻测试仪恒奥德 的详细介绍
手持式数字式四探针测试仪/手持式四探针测试仪/四探针电阻测试仪恒奥德
手持式数字式四探针测试仪/手持式四探针测试仪/四探针电阻测试仪 型号:HADM-2
HADM-2型手持式数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。
      仪器成套组成:由主机、选配的四探针探头等二部分组成,也可加配测试台。
主机主要由数控恒流源,高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成,自动转换量程。仪器所有参数设定、功能转换全部采用一旋钮输入;具有零位、满度自校功能;全自动转换量程;测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电,适合手持式变动场合操作使用!
      探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头,也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。
     
         详见  表2《四探针探头型号规格特征选型参照表》点击进入
仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
三、基本技术参数
1. 测量范围、分辨率
    电    阻:     0.010~ 9999Ω,    分辨率0.001~ 1 Ω
    电 阻 率:     0.010~ 2000Ω-cm, 分辨率0.001~ 1 Ω-cm
    方块电阻:     0.050~ 2000Ω/□   分辨率0.001~ 1 Ω/□
2. 材料尺寸
   手持方式不限材料尺寸,但加配测试台则由选配测试台和测试方式决定
   直    径:HAD/SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15~130mm。
   HAD/SZT-C方测试台直接测试方式180mm×180mm。
   长(高)度:测试台直接测试方式 H≤100mm。.
   测量方位: 轴向、径向均可.
3. 量程划分及误差等级
量程(Ω-cm/□)
9.999
99.99
999.9
9999.
电阻测试范围
0.010~9.999
9.99~99.99
99.99~999.9
999.9~9999
电阻率/方阻
0.010/0.050~9.999
9.99~99.99
99.99~999.9
999.9~2000
基本误差
±1%FSB±2LSB
±2%FSB±2LSB
4) 适配器工作电源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,或电池供电
5) 外形尺寸:W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
净   重:≤0.5kg
 
产品留言
标题
联系人
联系电话
内容
验证码
点击换一张
注:1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!
2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!

Copyright© 2003-2019  北京恒奥德仪器仪表有限公司版权所有
    电话:18911282105/010-51658042/15811023934/51655247/13311510631/15010245973    传真:010-57553286    地址:北京市海淀区阜成路    邮编:100142