方块电阻测试仪/方块电阻测定仪/四探针方块电阻测试仪 型号：HAD-XX-2
HAD-XX-2型方块电阻测试仪,是XX型系列四探针方块电阻测试仪中的新代产品,门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器.可用于测量般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等物质的薄层电阻 点: 1、采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要分，测量准确稳定。 2、以大屏幕LCD显示读数，直观清晰 3、采用单个电池供电，带电池欠压示 4、体积≤175mmX92mm X42mm，重量≤300g 5、可配台式探头和制之手握式探头，对应可采用台式和手握式操作，使用简易 6、带探头与被测物质接触良好示(LED) 7、单电源开关，推拉式探头－主机接插件，操作其简便。 术标 测量范围：基本量程：方块电阻 1.00-199.99(Ω/口) 扩展量程: 方块电阻 10.0-1999.9(Ω/口) 测量不确定度≤5% 探针间距:1mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;缘电阻≥500 MΩ 手握式探笔长度:约150mm或90mm;电缆联线长度:约1.5M