*四探针电阻率测试仪 型号：HAD-S2663
HAD-S2661/2662/2663 系列*四探针电阻率测试仪，可根据不同材料特性需要，有多种测试探头可供选择。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、石墨烯、热敏材料、金属、导电塑料等硬质材料的电阻率和方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测试柔性材料导电薄膜、PE膜、电容卷积膜、金属箔、金属涂层或者碳纸、薄膜、陶瓷、玻璃基底上导电膜（ITO膜）、锂电池电池电极片、氢燃料电池电极片或纳米涂层等半导体材料的电阻率和方阻。仪器适用于半导体材料厂、高等院校和科研单位对导体、半导体材料导电性能的测量。
性能特点
v 超大液晶人性化操作界面
v 多种测量参数可选
v 测量数据自动保持功能
v 超快测量并显示读数
v 量程有自动和手动双模式
v 档号显示及档计数功能
v 兼容多种材料测量
v 专业的通讯接口可以与 PC 进行数据通讯及对仪器的远程控制
应用
l 金属片、导电金属箔材料、金属箔上涂层
l 单晶硅、多晶硅、硅片、硅晶棒、硅锭、硅块料
l 石墨烯、锂电池电极、氢燃料电池双极板、太阳能电池片
产品型号 HAD-S2661 HAD-S2662 HAD-S2663 HAD-S2663A
HAD-S2661 电阻率 10µΩ･cm－200kΩ･cm 电阻率 10µΩ･cm－200kΩ･cm 模拟电阻 10µΩ－200kΩ
HAD-S2662 电阻率 1µΩ･cm－2MΩ･cm 电阻率 10µΩ/sq－2MΩ/sq 模拟电阻 1µΩ－2MΩ
HAD-S2663 电阻率 1µΩ･cm－20MΩ･cm 电阻率 10µΩ/sq－20MΩ/sq 模拟电阻 10µΩ－20MΩ
HAD-S2663A 电阻率 0.1µΩ･cm－20MΩ･cm 电阻率 1µΩ/sq－20MΩ/sq模拟电阻 1µΩ－20MΩ
性能指标
显示器 高清 LCD 液晶显示
显示位数 6 位
精度 电阻率、方阻：4%；模拟电阻：0.1%；
测量功能
量程方式 自动，保持
测量速度 快速: 10 次/秒，中速: 5 次/秒，慢速: 2 次/秒
触发方式 内部，手动，外部
分选和接口
分选功能 内建比较器：合格、上超和下超
讯响 合格，不合格，关闭
接口配置 RS-232C 接口/HANDLER/USB Device（选件）
一般规格
操作环境 0°C －40°C ，≤90%RH
保证精度环境 23±5℃，≤80%RH
电源要求 198V－242V(AC），47.5Hz－63Hz
功耗 ≤30 VA
尺寸、重量 335 mm(宽) x 120 mm(高) x 320 mm(深) 5.5kg