电阻率/方块电阻测试仪 型号：HADDB1
本方阻测试新产品为薄膜测试提供机械、电气两方面的保护，在宽广的量程范围内，使各种电子薄膜能得到准确、无损的方块电阻测量结果。
由于新型薄膜材料种类繁多，研制过程中样品性能变化较大，而且各种薄膜的机械强度，允许承受的电压、电流均不相同，因此测试仪可为用户量身定制各种特定探针压力及曲率半径的探针头，仪器的测试电流分7档，可由0.4μA增加到为1000mA，测试电压可由8V增加到80V，测试电压和测试电流均可连续调节，给薄膜、涂层的研制者提供了一个摸索测试条件的宽阔空间。
由于仪器设有恒流源开关，并且所有电流档在探针与样品接触后均有电流延时接通的功能，充分保护了样品表面不会因为探针接触时产生的电火花而受到损坏。
仪器性能
方阻测量范围：1×10-5～2×106Ω/□，分辨率1×10-5Ω/□；
电阻率测量范围：1×10-6～2×105Ω·cm或1×10-8～2×103Ω·m，分辨率1×10-6Ω·cm或1×10-8Ω·m；
探针压力：25g～250g；
探针曲率半径：25μm～450μm
（注：探针压力及曲率半径可根据薄膜材料性能及用户需求定制）；
测试电流分7档：1μA、10μA、100μA、1mA、10 mA、100 mA、1000 mA；
测试电压：（1μA～10 mA档）12～80V连续可调
（100mA档） 8～36V连续可调
（1000mA档） 8～15V连续可调；
测量方式：手动或自动（配置*测试软件）；
测量对象：导电薄膜、半导体薄膜、电力电容器铝箔、各种金属箔、银浆涂层、锂电池隔膜等各种新型电子薄膜；各种半导体材料的电阻率。