数字式四探针测试仪/四探针电阻率检测仪/方阻仪型号：JGST-2253
JGST-2253 型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量半导体材料的电阻率，测量扩散层的薄层电阻（亦称方阻）。换上制的四探针测试夹具，还可以对金属导体的低、中值电阻行测量。 仪器由主机、测试探头（可选配测试台）等分组成，测试结果由主机数码管直接显示。也可连接PC机由配套软件在PC机上操作，其数据可由软件显示、分析、保存和打印！ 主机主要由*恒流源，分辨率 ADC、嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。测试探头采用宝石导向轴套和耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长。仪器具有测量精度、灵敏度、稳定性好、**化程度、测量简便、结构紧凑、使用方便等点。 仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、等院校对半导体材料的电阻性能的测试。别适用于要求快速测量中低电阻率的场合。 三、基本术参数 3.1测量范围 电 阻率： 10-4～105Ω-cm 方块电阻： 10-3～106Ω/□ 电 阻：10-4～105Ω 3.2可测半导体材料尺寸 直 径： Φ15～100mm, 长（或）度： ≤400mm 2.3测量方位: 轴向、径向均可 2.4. 4 1/2 位数字电压表： ⑴量程： 200mV ⑵误差：±0.1%读数±2 字 2.5数控恒流源 ⑴电流输出：直流电流 0～100mA 连续可调，由交流电源供电。 ⑵量程：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA ⑶误差：±0.5%读数±2 字 2.6四探针测试探头 ⑴探针间距 1mm (2)探针压力: 0～2kg 可调,*压力约 2kg (3)探针：碳化钨，Φ0.5mm 2.7.电源 输入: AC 220V±10% ,50Hz 耗：<20W 2.8.外形尺寸： 主机 260mm（长）×210 mm（宽）×125mm（）