表面磁光克尔效应实验系统 型号；H23030
在 1845年，Michael Faraday发现了磁光效应，他发现当外加磁场加在玻璃样品上时，透射光的偏振面将发生旋转的效应，随后他在外加磁场之金属表面上做光反射的实验，但由于他所谓的表面并不够平整，因而实验結果不能使人信服。1877年John Kerr在观察偏振化光从抛光过的电磁铁磁反射出來时，发现了磁光克尔效应(magneto-optic Kerr effect)。1985年Moog和Bader兩位学者行铁薄膜磊晶成长在金单晶(100)面上的磁光克尔效应量做实验，成地得到原子层厚度磁性物质之磁滞回线，并且提出了以SMOKE来作为表面磁光克尔效应 (surface magneto-optic Kerr effect)的缩写，用以表示应用磁光克尔效应在表面磁学上的研究。由于此方法之磁性解析灵敏度达原子层厚度，且仪器配置合于真空系统之作，因而成为表面磁学的重要研究方法。
它在磁性薄膜的磁有序、磁各向异性、层间耦合和磁性薄膜的相变行为等方面的研究中都有重要应用。应用该系统可以自动扫描磁性样品的磁滞回线，从而获得薄膜样品矫顽力、磁各异性等方面的信息。另外，该系统可以和真空系统相连，对磁性薄膜和薄膜行原位测量。
仪器主要术参数：
1．半导体激光器 波长 650nm 输出率 2mW
2．偏振棱镜 格兰－汤普逊棱镜 通光孔径 8mm 消光比10 －5 主透射比90％
3．电磁磁铁 中心*磁感应强度0.3T 磁间隙 30mm
4．*恒流电源 *电压 38V *输出电流 10A
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